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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
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2020-01-03 金属材料反射率测量.caj
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
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2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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2019-03-18 UAS sensors and data processing in agroforestry a review towards practical applications.pdf
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2022-11-21 安洲科技 无人机多源遥感产品册.pdf
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2020-08-26 WIRIS Pro 高性能机载热红外成像仪.pdf
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2020-08-26 SOC系列高光谱成像光谱仪.pdf
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2020-08-26 SEI高性能地物光谱仪.pdf
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2020-08-26 S185 机载画幅式高速高光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 K6 科研级机载多光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 425全波段高光谱成像系统.pdf
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安洲科技参加在重庆召开的第三届国际新材料大会
6月6日至9日,2014第三届国际新材料大会在重庆悦来国际会议中心召开。本届大会由国家外国专家局国外人才信息研究中心、重庆市人民政府会展办公室、重庆市经济与信息化委员会、重庆市科学技术委员会、重庆市人力资源和社会保障局等单位共同承办。本届大会以“无所不在的智慧之梦”为主题,大会邀请了新材料领域国内外知名专家、知名企业家、学术领军人物、资深科学家、行业协会负责人出席会议并做精彩报告,海内外业界精英齐聚一堂,共话新材料时代的创新未来。本届大会邀请到了600多位海内外专家学者齐聚重庆,共同打造新材料领域的国际盛会。
北京安洲科技有限公司协同美国SOC公司共同参加了本届大会。美国SOC公司的产品主要包括成像光谱仪和反射率测量仪两大类;其成像光谱仪具有独特的内置扫描设计,大大减轻了整机重量,提高了可操作性。其产品在进入中国市场的很短时间内便获得了广泛认同。安洲科技作为美国SOC公司中国区总代理,在与会期间展示了SOC710VP成像光谱仪与410-Solar便携式太阳能反射率仪实物,许多参会专家对SOC710VP便携式可见-近红外成像光谱仪的内置扫描、便携式设计、分辨率精度高、可以满足360°任意角度测量以及软件操作给出了很高的评价。美国SOC公司首席科学家Jafolla博士在大会上作了题为“先进的分析和实验技术表征光学散的表面”的报告,报告引起了专家学者的广泛讨论,获得了大家的一致好评。
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