SOC750MW 中波红外高速成像光谱仪

SOC750-MW 系列是一款快速、实时的MWIR高光谱成像系统。可以用于机器视觉、精准农业、生物医药、国防安全、遥感科学等研究工作。基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面阵列探测器、高速扫描系统、高质量的成像光谱仪、以及功能强劲的标定和分析软件HSAnalysis，SOC750-MW可以在2-5μm范围内以27Cubes/s的速度进行高光谱图像测量，光谱分辨率为48～73nm。所测数据可以由第三方软件读取及分析。

SOC750

SOC750-MW系列是一款快速、实时的MWIR高光谱成像系统。可以用于机器视觉、精准农业、生物医药、国防安全、遥感科学等研究工作。

基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面阵列探测器、高速扫描系统、高质量的成像光谱仪、以及功能强劲的标定和分析软件HSAnalysis，SOC750-MW可以在2-5μm范围内以27Cubes/s的速度进行高光谱图像测量，光谱分辨率为48～73nm。所测数据可以由第三方软件读取及分析。

SOC750成像光谱仪包括实时高光谱成像处理器，采用的SOC公司专有的高性能HSAnalysis3软件，软件具有图形用户友好界面。

技术指标

型号	SOC750-HB	SOC750-HR
主要特点	高亮度	高分辨率
检测器	锑化铟(InSb)	锑化铟(InSb)
空间像素	256*240	512*512
光谱范围	2-5µm	2-5µm
光谱通道	42	64
光谱带宽	0.073µm	0.048µm
测量速度	11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42	2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64
FPA阱容	20Me‑	5Me‑
探测器像距	30µm	20µm
IFOV@50mm	0.6mr	0.4mr
测量温度	1250°C	1100°C

产地：美国

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