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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
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2020-01-03 金属材料反射率测量.caj
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
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2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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2019-03-18 UAS sensors and data processing in agroforestry a review towards practical applications.pdf
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2022-11-21 安洲科技 无人机多源遥感产品册.pdf
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2020-08-26 WIRIS Pro 高性能机载热红外成像仪.pdf
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2020-08-26 SOC系列高光谱成像光谱仪.pdf
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2020-08-26 SEI高性能地物光谱仪.pdf
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2020-08-26 S185 机载画幅式高速高光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 K6 科研级机载多光谱成像仪.pdf
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2020-08-26 425全波段高光谱成像系统.pdf
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全国统一电话:4006-507-608
SOC100 半球定向发射率测量仪
SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。
SOC-100 半球定向反射率测量仪(HDR)及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力,是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR, SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR,所测量光谱区域为2-25μm,也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。
测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制,有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows®界面,驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容,还具有附加软件包,可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。
测量数据:
n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率
n 测量漫反射和镜面反射,及0°入射的透射率
n 温度达500℃和10°~80°角度下,定向发射率的角度-波长-温度函数
n 总半球发射率的温度函数
应用:
n 支持红外图像模拟和红外材料的开发
n 鉴定和测量表面污染
n 散射和镜面反射检测
n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据,以计算其光学常数(n,k)
n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据
n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据
软件功能:
n 标准软件提供:仪器控制、项目和数据的基础管理;控制Nicolet FTIR的OMNIC软件
n 可选的应用软件:光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析
用途:
n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发
n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试
规格参数:
测量配置 |
最先进的全自动18’’半椭球反射率光谱仪 |
光谱范围 |
波长范围取决于FTIR,如下表所示: 标准 2.0-25.0μm (5000-400 cm-1) 固体基质 14.0-200.0μm (700-50 cm-1) |
探测器 |
灵敏的DTGS检测器,不需要液氮制冷,比HgCdTe(MCT检测器)涵盖的波长范围更广泛 |
分辨率 |
根据需求:2、4、8、16或32 cm-1的分辨率可以使用 |
样品尺寸 |
标准:样品直径1”;最大可容纳样本尺寸3”×4” |
自动化测量 |
测量过程由电脑控制的5个步进电机自动化进行 |
数据格式 |
ERAS、ASTM表格格式;反射率与波长或反射率与角度的图形、线性或对数图表 |
产地:美国
产品列表
测量服务
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