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2020-01-03 涂层材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 纳米材料反射率测量.pdf
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2020-01-03 镜面薄膜反射率测量.pdf
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2020-01-03 WIRIS 热像仪在安防领域的应用.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于监测雷区军事设施.pdf
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2020-01-03 S185机载高光谱用于爆炸装置的伪装识别.pdf
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2020-01-03 南昌航空大学利用ET100研究铝合金等发射率.caj
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2020-01-03 美国桑迪亚大学利用410Solar测量太阳镜薄膜反射率.pdf
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2020-01-03 美国纳米材料研究中心利用410Solar测量纳米材料反射率.pdf
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2020-01-03 澳大利亚国立大学利用410Solar测量不同涂层材料反射率.pdf
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全国统一电话:4006-507-608
SOC710VP 高光谱成像光谱仪
及双CCD探测器的独特设计,集成度高;可用于野外、实验室或显微测量
SOC710VP高光谱成像光谱仪具有内置推扫及双CCD探测器的独特设计,集成度高,操作便捷;可用于野外、实验室或显微测量,快速获得观测目标在400-1000nm内的高光谱图像数据。可进行环境遥感 、精准农业 、物种分类、农林遥感、植物科学、果实/种子品质、成分分析等研究。
SOC710高光谱成像仪整机集成度高,内部整合了平移推扫机构及检测器,一体式设计,一键式操作,简单易用,尤其适合野外移动式测量或长期观测使用。仪器采用全息衍射技术,光通过率高、偏振效应小。双CCD可视化对焦,能够直接预览测量区域图像;采集软件具有光谱单波段灰度图像、彩色合成图像以及光谱曲线的实时显示功能;可显示任一单波长影像,并可用软件制作3D高光谱立体图像显示;可以视频模式存储并连续播放不同波长的影像。仪器经过严格NIST可溯源校准,数据准确可靠,已受到国际及国内众多科研单位的青睐,目前国内已有数百家科研单位及高校选择了SOC710。
主要优势
n 扫描方式——内置平移扫描图像无畸变
独特的内置扫描和双CCD设计,可以直接预览待测区域图像,内置平移式平移推扫设计成功地解决了外置扫描方式无法避免 的图像畸变问题。真正的所见即所得!
n 全自动测量——高度智能化运行
自动暗电流、自动匹配扫描速度、自动测量、自动存储;可按预设的测量任务长期无人值守全自动监测
n 便携性——野外/室内多种模式,多种用途
SOC710总重量仅2.95kg,可以直接安装在多种支架上进行测量。USB接口使用方便;可扩展多种接口,多种用途
n 灵活性——可快速转换为显微测量
SOC710独特的内置扫描和双CCD设计,使它可直接与显微镜联接使用,观测微观样品的光谱图像,不需另配扫描台
n 软件功能强大——具有多种分析功能
用于测量、校正和分析处理高光谱成像数据,具备光谱数据分析功能。软件支持多种参数设置;可显示光谱曲线及光谱图像 的显示界面;兼容性好,适合第三方软件如ENVI应用;机械平台控制功能;光谱图像计算、光谱反射率计算、光谱匹配角度 填图功能、单波长影像及3D立体图像显示;可输出至EXCEL报表便于数据处理
n 多种测量模式、多种观测尺度、一机多用、应用领域广泛
SOC710具有内置扫描及双CCD的独特设计,可以很容易地实现多种测量方式,灵活高效地获取多种测量尺度及多种测量角 度的高光谱图像数据,兼顾了野外支架—移动式测量—实验室—显微成像等多种使用需求,多功能支架可测量棉花、玉米、 果树等大型植物
技术参数
SOC 710VP 高光谱成像光谱仪 |
|
光谱范围 |
400~1000nm |
光谱分辨率 |
达1.3nm(可设置) |
光谱通道数 |
512/256/128任选 |
扫描速度 |
150~200帧/秒 |
光圈孔径(F值) |
1.4 |
通讯方式 |
USB、RS232,可远程传输 |
A/D位深 |
12~16bit,自适应 |
透光效率 |
>85%@400-1000nm |
CCD像素 |
1392*1040(可自动Bin为696/行) |
检测器 |
内置双CCD面阵探测器,自动切换 |
扫描方式 |
内置平移推扫,图像无畸变 |
测量模式 |
一机多用(三脚架/摇臂/通量塔/实验台/显微镜/暗箱/无人机等) |
工作方式 |
全自动/手动,任意切换 |
软件功能 |
测量及分析,输出植被指数、极值、方差等 |
整机重量 |
2.95Kg(含双CCD及内置推扫机构) |
使用环境 |
-30~50℃;相对湿度:0~100%RH |
产地:美国
产品列表
测量服务
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